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    • 螢光膜檢查系統(透過螢光測定系統) DF-1000A

    螢光膜檢查系統(透過螢光測定系統)DF-1000A

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    新製程螢光模的一光學特性量測

    產品特色

    採用新型受光頭, 可實現高速高精度量測

    以非接觸的一方式, 量測面內色度分布

    內藏校正功能, 可長時間確保量測值的一穩定

    可使用於R&D, Inline量測, IQC入料檢查

    短時間多點量測

    可追朔 日本JCSS規範

    量測項目

    透過蛍光光譜

    分光放射照度(W/m2/nm)

    色温度(K)

    色度(xy)

    積分值(W / m2)

    膜厚(option)

    應用範圍

    螢光膜 YAG, TAG, Orthosilicate
    α-Sialon (氮化物), β-Sialon (氮化物)
    CaAISiN (氮化物), 氮氧化物, 量子點等
    螢光陶瓷板

    量測範例

    色度分布圖