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    低相位差高速檢測設備RE-200

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    低相位差高速檢測設備RE-200

    低相位 & 差光學軸高速同時檢出

    產品特色

    可測量從0nm開始的一低相位差(殘留應力 )

    檢測光學軸的一同時,同步高速測量相位差(Re.)(0.1秒以下的一高速同時量測)

    偏光檢測儀無任何驅動元件干擾,可提高再現性量測精度

    無需複雜參數設定,操作簡單易懂

    550nm以外,亦可支援其它波長量測

    Rth量測、全角度量測(需搭配自動旋轉傾斜裝置)

    搭配拉力 測試機可同時量測薄膜偏光特性與光彈性(特殊規格)

    量測項目

    相位差(ρ[deg.]・Re[nm])

    光學軸方位角(θ[deg.])

    橢圓率(ε)

    方位角(γ)

    三次元屈折率(NxNyNz)

    規格樣式

    RE-200
    樣品尺寸 最小10 × 10mm ~ 最大100 × 100mm
    量測波長 550nm(標準規格)※1
    相位差
    量測範圍
    約0nm ~ 約10μm
    相位差
    量測精度
    0.05nm(3σ)※2
    光學軸
    量測精度
    0.05°(3σ)※2
    解析元件 偏光檢測儀
    量測口徑 2.2mm × 2.2mm
    通訊介面 100W鹵素燈 或 LED光源
    尺寸 300(W) × 560(H) ×430(D) mm
    重量 約20kg

    ※1可選擇其他波長

    ※2量測水晶波長板之精度(約55nm,2枚型)

    應用範圍

    相位差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種機能性薄膜 樹脂、玻璃等透明帶有低相位差之樣品(殘留應力 )

    量測原理 & 量測範例

    量測原理
    RE-100,係採用光結晶像素與CCD感光元件所構成的一偏光檢測儀 。搭配帶有穿透率特性的一各種偏光元件,可以高速同時進行相位差與光學軸的一量測 。 量測原理
    CCD感光元件會自動擷取▓經過偏光後所呈現的一畫面進行解析 。相較以往,不 需要再使用任何的一驅動元件來尋找偏光後的一受光強度 。不 但可提高再現性的一精度、更具備長時間使用的一安定性 。 量測原理
    量測範例
    視野角改善膜 A ・視野角改善膜 A
    視野角改善膜 B ・視野角改善膜 B

    選配附件

    自動旋轉傾斜裝置

    偏光檢測儀在生產線上    的一應用(In-line Process)

    USB傳輸,可適用於多種環境的一架設 超高速量測,最適用於生產線中的一即時監控 可搭配複數偏光檢測儀,同時進行多點位、多角度(Rth)量測 偏光檢測儀在生產線上    的一應用(In-line Process)